Gatan SmartEMIC电子束感应电流测量系统

产品介绍

Gatan SmartEMIC电子束感应电流测量系统

品牌： GATAN 

名称型号：Gatan SmartEMIC电子束感应电流测量系统

制造商： GATAN公司

经销商：欧波同有限公司

        产品综合介绍：

        产品功能介绍

        EBIC分析系统，可以实时软件控制全自动采集电子束感生电流（EBIC）信号，获得EBIC图像信息，还可以获得IV曲线信息，终可以测试PN结位置，宽度，少子扩散长度，材料或器件的失效点定位，广泛应用于电子半导体领域。

        品牌介绍

        美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在电镜界享有*声誉。

        作为设计和制造用于增强和拓展ylzz总站功能的附件厂商，其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学，能源科学等领域， 客户范围涵盖的科研院所，高校，各类检测机构及大型工业企业实验室，并且在科学研究领域得到了广泛认同。

        经销商介绍

        欧波同有限公司是微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术qi业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为ylzz总站、GATAN扫描ylzz总站制样设备及附属分析设备在中国地区重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与技术服务。

        产品系统特点：

        高性能、地噪声EBIC系统，进行定量EBIC测量。界面友好的智能分析软件运行于DigitalMicrograph软件平台。

        用于SEM的SmartEBIC 系统包括：

        •计算机控制的、充电电池供电的EBIC放大器

        •高级EBIC样品座(ASH)，并配有可调节的钨探针以进行台式接触。配以适当的Gatan适配器还可以通过空气锁来装载试样*

        • 与SEM样品台接口

        •链接插座及4个BNC型的电缆链接，低噪声这空馈通，适于EBIC和电子束流的测量

        •具有Fireware技术的DigiScan II数字电子束控制系统。它包括两个模拟输入，可同时采集摄影质量的图像，并可灵活控制像素强度、每点驻留时间、扫描旋转等。对于某些SEM，它还可以通过软件通讯SEM的操作参数。

        •配有先进的SmartEBIC应用插件的Digital Micrography软件，以进行定量测量、线性轮廓的实时和后处理分析

        产品主要技术参数：

        SmartEBIC可以对EBIC信号进行自动控制采集和定量分析:

        扫描控制系统:

  1、1-, 2- or 4-比特数据采集提供了超大的动态范围

  2、从 16 x 1 至 8000 x 8000 像素扫描分辨率

  3、电子束停留时间，在0.5毫秒/像素到300毫秒/像素之间可调

  4、自动调节图像显示大小，使得EBIC实验过程变得更方便

*5、配置Digi-Scan控制器，实时软件控制全自动采集，可以在EBIC信号的采集时就对信号进行定量分析，无需附加的后处理，

*6、不仅获得EBIC图像信息，还可以获得IV曲线信息。

        噪音控制:

  1. 特别设计的EBIC附属样品台

  2. 同轴绕线方式

  3. 可重复使用的铅酸电池 (15小时续航时间)

  4. 可以改变放大器的增益，从而*化数据采集的信噪比和带宽

  5. 两种可选的一阶RC滤波器 ，低通或高通滤波

  6. 低漂移放大模式

  7. 在与PC通讯的时间以外，系统的微处理器会自动切换到睡眠状态

  8. 丰富的图像处理工具。包含锐化工具、平滑工具和傅立叶变换工具等。  

  9. 可以适配与Lock-in技术（本系统并不提供，这样的配置系统将不会对EBIC信号定量分析）

        追踪:

        通过软件实现。在12bit（1.22mV）采集分辨率模时为+/-5V。

        自动化:

        即使在放大器参数设定欠佳的条件下，系统也能自动优化图像的显示大小，从而提供更方便的图像浏览

        可以对放大器的偏移/增益进行自动设置

        软件:

        流程式一维扩散长度测量

        广泛的面扫/线扫描分析工具，包括数学分析工具，滤波应用等

        广泛的图像显示方案选项，包括二次电子图像与EBIC图像的叠加

        编程语言可助您为自己的实验编写定制化软件

        产品主要应用领域：

        测试PN结位置，宽度，少子扩散长度金属材料

        材料或器件的失效点定位

        测试半导体材料的位错密度

        IV特性测试

        应用实例：

        应用一：测试PN结位置，宽度，少子扩散长度
        应用二：材料或器件的失效点定位