场发射扫描电镜搭载*的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。扫描电镜具有多功能性和高质量成像性能，采用了创新性的末级透镜设计，引入静电式末级透镜，支持镜筒内高分辨率检测，即使是针对磁性样品也可实现成像及分析性能。在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其易用性。
场发射扫描电镜在耐用的SEM平台上引入了智能对中技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦矫正。此外，扫描电镜的工作距离不再意味着低分辨成像，系统还可升级实时元素谱/图成像功能，*改变了几十年来传统SEM-EDS固有的元素分析流程，将元素分析效率提升。任何用户都可以轻松地得到的分析效果。
场发射扫描电镜的性能特点：
1.全面解析：全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料；
2.灵活性：非常灵活的处理范围广泛的样品类型，包括绝缘体，敏感材料，或磁性样品，并收集对您的应用重要的数据；
3.SmartAlign技术：使用SmartAlign技术(智能调整光学系统)，实现光学系统自动调整，减少维护时间；
4.先进的自动化：先进的自动化包括FLASH自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH技术；
5.实时定量EDS：元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便；
6.标准工作流操作：内置了用户工作流功能，无论是初学者还是经验丰富，都能够快速上手，并稳定获取实验数据。
